影響涂層測厚儀測量精度的因素有哪些
常見的涂層測厚儀以磁性法和渦流測厚法兩種原理為主。儀器的測量精度，一直是用戶比較關(guān)心的問題。但儀器的測量精度會受到多方面因素的影響，除了技術(shù)本身以外，還會受到人為因素、自然因素等方面的影響。那影響儀器測量精度的因素有哪些呢？
一、因素之一：人為可控因素
1.曲率
被測材料的曲率對測量是有一定的影響的。這種影響主要是隨著曲率半徑的減少而明顯的增大。因此如果一個被測材料有彎曲面，在彎曲面測量材料的數(shù)據(jù)是不可靠的。因此我們在測量涂層厚度時盡量選擇平整的表面來作為測量點。
2.試件的變形
我們所說的涂層測厚儀測量的材料都是干膜的涂層厚度，對于濕膜是不適合用儀器來測量的。因為變形的膜厚會影響儀器的測量數(shù)據(jù)。所以對于不同類型的膜厚我們要選擇合適的儀器。
3.邊緣效應(yīng)
儀器對試件表面的形狀會陡變敏感，所以儀器在靠近被測材料的邊緣或者內(nèi)轉(zhuǎn)角的測量數(shù)據(jù)是不可靠的。我們在進行涂層厚度測量時要盡可能的避免邊邊角角。
4.磁場
周圍各種電器設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重的干擾磁性法測厚儀的工作。所以在測量涂層厚度時為了保證測量精度，要避免強磁場的測量環(huán)境。
5.附著物質(zhì)
儀器的測頭一般會對覆層表面的附著物比較敏感，因此可以去除測頭表面的附著物，以保證測頭和被測物表面直接接觸，確保測量數(shù)據(jù)更準。
6.測頭壓力
高精度涂層測厚儀的測頭施加在涂層表面的壓力也會影響到測量數(shù)據(jù)的精度，因此我們在測量涂層的厚度時一定要保持恒定的壓力。
7.測頭的取向
測頭的放置方向會對測量數(shù)據(jù)有一定的影響，因此在測量基體表面的涂層厚度時要使測頭與涂層表面保持垂直。
二、因素之二：自然影響因素
1.基體金屬磁性質(zhì)
磁性測量原理的測厚儀在測試中會受到基體金屬的磁性變化的影響。在磁性測厚儀實際應(yīng)用中，低碳鋼的磁性變化是較小的。所以我們一般在使用磁性測厚儀時，要用與涂層基體相同的基體金屬來作為標準片對儀器進行校準。
2.基體金屬電性質(zhì)
金屬作為導(dǎo)體一般都具有導(dǎo)電性，而基體金屬的導(dǎo)電率則會影響涂層測厚儀的測量精度。并且金屬基體的導(dǎo)電率與材料的成分以及熱處理方法有關(guān)，可以使用與試件基體金屬具有相同的性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。
3.基體金屬厚度
每一種儀器都會有一個基體金屬基體厚度的臨界值，最薄可以測量多厚的基體材料。只要大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
4.表面粗糙度
金屬基體表面膜厚的粗糙程度會對測量數(shù)據(jù)有一定的影響。粗糙程度越大對測量數(shù)據(jù)的影響程度就越大。粗糙的程度會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。在同一表面的不同位置增加測量次數(shù)可以減小這種誤差。如果金屬基體粗糙可以在為涂覆的粗糙度類似的金屬試件上取幾個點校對儀器的零點。
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