對(duì)于一些厚度比較大的物體，我們可以采用粗略的測(cè)量方法估計(jì)厚度。但對(duì)于非常薄的物體表面或者是測(cè)量精確度要求比較高時(shí)，比如手機(jī)膜的厚度測(cè)量，就可以利用高精度涂層測(cè)厚儀進(jìn)行厚度測(cè)量。

為什么手機(jī)膜需要采用儀器進(jìn)行厚度測(cè)量呢？還有沒(méi)有別的簡(jiǎn)便方法也可以進(jìn)行測(cè)量呢？首先我們要了解手機(jī)膜這種厚度接近一百微米甚至幾百微米的物品是很難大致估測(cè)厚度的，一般來(lái)說(shuō)手機(jī)鋼化膜的厚度通常在150um-400um之間，如果采用螺旋測(cè)微器甚至游標(biāo)卡尺進(jìn)行厚度測(cè)量都會(huì)造成誤差很大。

用高精度涂層測(cè)厚儀進(jìn)行手機(jī)膜厚度測(cè)量是同等條件下較為簡(jiǎn)單便利同時(shí)又準(zhǔn)的一種方法。在科研中針對(duì)薄膜也有一些測(cè)量方式，比如作為橢偏儀的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，或者專(zhuān)業(yè)用于測(cè)量薄膜厚度的臺(tái)階儀。還有光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等。這些儀器可以分為接觸式的和非接觸式的。接觸式的有比如臺(tái)階儀探針，但這種儀器測(cè)量具有破壞性，對(duì)于非常薄的物體測(cè)量起來(lái)有困難，也容易造成破壞。非接觸式的通常采用光學(xué)測(cè)量?jī)x器用光學(xué)方法進(jìn)行測(cè)量，雖然測(cè)量分辨率精度高，但是應(yīng)用光學(xué)原理因此局限于只能測(cè)量透明和半透明的膜，如橢偏儀等。實(shí)際上在工業(yè)領(lǐng)域要獲得這些儀器并不容易，操作起來(lái)也較困難。因此在一般需要高精度的對(duì)手機(jī)膜進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，多采用的是測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量。

使用高精度涂層測(cè)厚儀測(cè)量手機(jī)鋼化膜的厚度過(guò)程中，應(yīng)盡量保證專(zhuān)人專(zhuān)用和保管儀器。這是因?yàn)殚L(zhǎng)期讓儀器處于工作狀態(tài)可能會(huì)加快儀器的損壞程度，也會(huì)使后面測(cè)量結(jié)果異常。在儀器工作時(shí)也要保持環(huán)境的穩(wěn)定，減少磁場(chǎng)和人為因素的影響。不隨意拆卸儀器，減少儀器受外物腐蝕的情況。定時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行檢測(cè)，出現(xiàn)故障時(shí)要及時(shí)送回廠(chǎng)家進(jìn)行維修，才能保持儀器的正常使用壽命和更準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果。

利用高精度涂層測(cè)厚儀進(jìn)行手機(jī)膜厚度測(cè)量是一無(wú)損害的測(cè)量方式，不會(huì)對(duì)手機(jī)膜造成損害。通過(guò)這款專(zhuān)業(yè)儀器測(cè)量手機(jī)膜厚度，可以在同等條件下讓手機(jī)鋼化膜厚度得到更好的控制，因此生產(chǎn)出更高質(zhì)量、更耐用的手機(jī)鋼化膜。因?yàn)閮x器對(duì)手機(jī)鋼化膜的測(cè)量結(jié)果直接影響到手機(jī)膜的生產(chǎn)質(zhì)量，因此在選購(gòu)儀器時(shí)一定要擦亮眼睛，選購(gòu)一款合適的質(zhì)量高的儀器。